Electrical characterization of 4H silicon carbide Schottky diodes under electron radiation /
Electronic components utilized in space missions are required to be radiation hard to maintain optimized electrical performance. Because of its wide bandgap, 4H-SiC based devices have been demonstrated to be the most suitable candidate for this purpose. This research investigates the effects of elec...
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | |
---|---|
التنسيق: | أطروحة |
اللغة: | English |
منشور في: |
Kuala Lumpur :
Kulliyyah of Engineering, International Islamic University Malaysia,
2015
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | http://studentrepo.iium.edu.my/handle/123456789/4742 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
كن أول من يترك تعليقا!