Md Kamal, N. (2010). Measurement of dielectric constant of silicon wafer using microwave non-destrictive testing and direct current technique / Nadia Md Kamal.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Md Kamal, Nadia. Measurement of Dielectric Constant of Silicon Wafer Using Microwave Non-destrictive Testing and Direct Current Technique / Nadia Md Kamal. 2010.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Md Kamal, Nadia. Measurement of Dielectric Constant of Silicon Wafer Using Microwave Non-destrictive Testing and Direct Current Technique / Nadia Md Kamal. 2010.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.