Effect of high-k FinFET performance / Fatin Syamila Mohammad

Scaling down transistor to 45nm node and below might require new processing steps such as new gate stack or new device structure such as FinFET. Thus, in this work the use of high-k gate insulator - hafnium oxide (Hf02) on FinFET performance was investigated. SPICE model was used to describe the rea...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Mohammad, Fatin Syamila
التنسيق: أطروحة
اللغة:English
منشور في: 2013
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:https://ir.uitm.edu.my/id/eprint/98671/1/98671.pdf
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!