Effect of high-k FinFET performance / Fatin Syamila Mohammad
Scaling down transistor to 45nm node and below might require new processing steps such as new gate stack or new device structure such as FinFET. Thus, in this work the use of high-k gate insulator - hafnium oxide (Hf02) on FinFET performance was investigated. SPICE model was used to describe the rea...
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Mohammad, Fatin Syamila |
---|---|
التنسيق: | أطروحة |
اللغة: | English |
منشور في: |
2013
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | https://ir.uitm.edu.my/id/eprint/98671/1/98671.pdf |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Reliability analysis of junctionless fin field effect transistor (JL-FinFET)
بواسطة: Hamzah, Muhammad Naziiruddin
منشور في: (2022) -
Performance analysis of 22NM FinFET-based 8T SRAM cell
بواسطة: Hasan Baseri, Nur Hasnifa
منشور في: (2018) -
Enhancing SRAM performance of common gate FinFET by using controllable independent double gate
بواسطة: Chong, Chung Keong
منشور في: (2015) -
Study of time-dependent dielectric breakdown (TDDB) in 15MM junctionless FinFET
بواسطة: Chng, Sze Lyn
منشور في: (2022) -
Optimal channel dimensions and temperature characteristics of SI-FinFET transistor
بواسطة: Yousif, Yousif Atalla
منشور في: (2019)