Development of a Functional Digital Integrated Circuit Testing System Using Mixed-Mode Technique
With the continuous increase in design complexities and packing densities of integrated circuit (IC), problems associated with conventional Automatic Test Equipment (ATE)-based IC testing approach have become a burning issue in the semiconductor world, which needs an economic solution with reliable...
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| التنسيق: | أطروحة |
| اللغة: | English English |
| منشور في: |
2004
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | http://psasir.upm.edu.my/id/eprint/380/1/549750_fk_2004_61_abstrak_je_%28dh_pdf%29.pdf |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|