Cheah , C. Y. (2010). A Study On Process-Generated Crystal Defects And Corresponding Leakage Current Of P-N Junctions In Bipolar Transistors.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Cheah , Chun Yee. A Study On Process-Generated Crystal Defects And Corresponding Leakage Current Of P-N Junctions In Bipolar Transistors. 2010.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Cheah , Chun Yee. A Study On Process-Generated Crystal Defects And Corresponding Leakage Current Of P-N Junctions In Bipolar Transistors. 2010.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.