Abdullah, F. (2013). Technique of failure analysis for gate oxide defect of Bi-polar CMOS Diffuse (BCD) technology.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Abdullah, Farisal. Technique of Failure Analysis for Gate Oxide Defect of Bi-polar CMOS Diffuse (BCD) Technology. 2013.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Abdullah, Farisal. Technique of Failure Analysis for Gate Oxide Defect of Bi-polar CMOS Diffuse (BCD) Technology. 2013.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.