Alamgir, A. (2016). Test vectors reductoin for integrated circuit testing using horizontal hamming distance.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Alamgir, Arbab. Test Vectors Reductoin for Integrated Circuit Testing Using Horizontal Hamming Distance. 2016.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Alamgir, Arbab. Test Vectors Reductoin for Integrated Circuit Testing Using Horizontal Hamming Distance. 2016.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.