A parallel built-in self-test design for photon counting array
Test module’s architectures and methodologies that would maximize test capability to filter out faulty chip after fabrication is highly demanded for chip cost reduction. A high-speed frequency Built-in Self-test (BIST) module is playing an increasingly large part in overall efficiency and quality of...
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| التنسيق: | أطروحة |
| اللغة: | English |
| منشور في: |
2022
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | http://eprints.utm.my/id/eprint/99566/1/PngKehJingMSKE2022.pdf |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|