توثيق جمعية علم النفس الأمريكية APA (الطبعة السابعة)

Ainul Fatin Muhammad Alimin. (2018). Degradation analysis based on design considerations of advanced-process MOSFET.

توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)

Ainul Fatin Muhammad Alimin. Degradation Analysis Based on Design Considerations of Advanced-process MOSFET. 2018.

توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)

Ainul Fatin Muhammad Alimin. Degradation Analysis Based on Design Considerations of Advanced-process MOSFET. 2018.

تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.