Pey, K. S. (1994). Electron beam induced current/tunneling current microscopy of thin silicon dioxide films on silicon.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Pey, Kin San. Electron Beam Induced Current/tunneling Current Microscopy of Thin Silicon Dioxide Films on Silicon. 1994.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Pey, Kin San. Electron Beam Induced Current/tunneling Current Microscopy of Thin Silicon Dioxide Films on Silicon. 1994.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.