توثيق جمعية علم النفس الأمريكية APA (الطبعة السابعة)

Pey, K. S. (1994). Electron beam induced current/tunneling current microscopy of thin silicon dioxide films on silicon.

توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)

Pey, Kin San. Electron Beam Induced Current/tunneling Current Microscopy of Thin Silicon Dioxide Films on Silicon. 1994.

توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)

Pey, Kin San. Electron Beam Induced Current/tunneling Current Microscopy of Thin Silicon Dioxide Films on Silicon. 1994.

تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.