Perera, M. T. C. (1995). A correlation of oxide trap density and TDDB characteristics of very thin SiO2 films.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Perera, Merinnage Tamara Chandima. A Correlation of Oxide Trap Density and TDDB Characteristics of Very Thin SiO2 Films. 1995.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Perera, Merinnage Tamara Chandima. A Correlation of Oxide Trap Density and TDDB Characteristics of Very Thin SiO2 Films. 1995.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.