Wu, Z. (1996). Computer controlled transient capacitance measurement and analysis of deep levels in semiconductors.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Wu, Zongmin. Computer Controlled Transient Capacitance Measurement and Analysis of Deep Levels in Semiconductors. 1996.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Wu, Zongmin. Computer Controlled Transient Capacitance Measurement and Analysis of Deep Levels in Semiconductors. 1996.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.