Extraction of submicron mosfet parameters /

مواد مشابهة

• Simulation of charge-trapping in nano-scale mosfets in the presence of random-dopants-induced variability /
  بواسطة: Muhammad Faiz Bukhori
  منشور في: (2011)
• Hot-carrier effects in thin gate oxide MOSFET's /
  بواسطة: See, Leng Kian
  منشور في: (1998)
• Hot-carrier studies in submicrometer SOI and conventional MOSFETs /
  بواسطة: Yip, Anselm
  منشور في: (1998)
• A study on the impact of processing parameters on low-voltage power MOSFET /
  بواسطة: Nur Aqilah Othman
  منشور في: (2012)
• The lateral profiling of interface state and oxide charge densities in electrically stressed MOSFET's /
  بواسطة: Hoon, Siew Kuok
  منشور في: (1998)