Ge, L. X. (1997). Photon emission microscope systems for integrated circuit failure analysis.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Ge, Li Xin. Photon Emission Microscope Systems for Integrated Circuit Failure Analysis. 1997.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Ge, Li Xin. Photon Emission Microscope Systems for Integrated Circuit Failure Analysis. 1997.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.