Than, S. E. (1997). Process yield and capability indices: Issues related to confidence limits and non-normal data.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Than, Su Ee. Process Yield and Capability Indices: Issues Related to Confidence Limits and Non-normal Data. 1997.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Than, Su Ee. Process Yield and Capability Indices: Issues Related to Confidence Limits and Non-normal Data. 1997.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.