Process yield and capability indices : issues related to confidence limits and non-normal data /
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Than, Su Ee |
---|---|
التنسيق: | أطروحة كتاب |
اللغة: | English |
منشور في: |
1997.
|
الموضوعات: | |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Performance Of Bootstrap Confidence Intervals Of Cpk Index Based On Mm•Estimator
بواسطة: Mohamad@Sulaiman, Hanissah
منشور في: (2002) -
A new yield optimization methodology /
بواسطة: Tan, Hiap Keong
منشور في: (1998) -
Statistical process control for high quality & complex processes /
بواسطة: Xie, Wen
منشور في: (1996) -
Stability analysis in statistical process control /
بواسطة: Atienza, Orlando O.
منشور في: (1998) -
On-line statistical process control: a hybrid intelligent approach /
بواسطة: Guh, Ruey-Shiang
منشور في: (1999)