Evaluation of hot-carrier degradation in submicrometre MOSFETs by gate capacitance and charge pumping current measurements /
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主要作者: | |
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格式: | Thesis 圖書 |
語言: | English |
出版: |
1997.
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實物描述: | xxxii, 191 leaves : ill. ; 30 cm. |
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參考書目: | Bibliography: leaves 159-182. |