Dai, F. (1997). Electrical characterization of N[2]O annealed gate oxide.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Dai, Feng. Electrical Characterization of N[2]O Annealed Gate Oxide. 1997.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Dai, Feng. Electrical Characterization of N[2]O Annealed Gate Oxide. 1997.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.