Li, O. (1997). Charging effects in low-voltage scanning electron microscope metrology.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Li, Ou. Charging Effects in Low-voltage Scanning Electron Microscope Metrology. 1997.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Li, Ou. Charging Effects in Low-voltage Scanning Electron Microscope Metrology. 1997.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.