Siva Raman. (1997). Electrical test optimization for integrated circuit (IC) devices to improve productivity, cycle time and product cost.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Siva Raman. Electrical Test Optimization for Integrated Circuit (IC) Devices to Improve Productivity, Cycle Time and Product Cost. 1997.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Siva Raman. Electrical Test Optimization for Integrated Circuit (IC) Devices to Improve Productivity, Cycle Time and Product Cost. 1997.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.