Electrical test optimization for integrated circuit (IC) devices to improve productivity, cycle time and product cost /
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| التنسيق: | أطروحة كتاب |
| اللغة: | English |
| منشور في: |
1997.
|
| الموضوعات: | |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
| وصف المادة: | Photocopy. |
|---|---|
| وصف مادي: | vii, 59 leaves : ill. ; 29 cm. |
| بيبلوغرافيا: | Includes bibliographical references. |