توثيق جمعية علم النفس الأمريكية APA (الطبعة السابعة)

See, L. K. (1998). Hot-carrier effects in thin gate oxide MOSFET's.

توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)

See, Leng Kian. Hot-carrier Effects in Thin Gate Oxide MOSFET's. 1998.

توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)

See, Leng Kian. Hot-carrier Effects in Thin Gate Oxide MOSFET's. 1998.

تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.