Wang, C. (1999). Characterization of a low dielectric constant material for multilevel interconnects.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Wang, Cuiyang. Characterization of a Low Dielectric Constant Material for Multilevel Interconnects. 1999.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Wang, Cuiyang. Characterization of a Low Dielectric Constant Material for Multilevel Interconnects. 1999.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.