Lee, J. W. K. (1999). Gate oxide integrity study.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Lee, Joshua Wai Khin. Gate Oxide Integrity Study. 1999.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Lee, Joshua Wai Khin. Gate Oxide Integrity Study. 1999.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.