Yue, J. M. P. (2000). A study on the hot-carrier degradation of wide and narrow channel nmosfet devices with recessed-locos isolation structures.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Yue, Jeffrey Mun Pun. A Study on the Hot-carrier Degradation of Wide and Narrow Channel Nmosfet Devices with Recessed-locos Isolation Structures. 2000.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Yue, Jeffrey Mun Pun. A Study on the Hot-carrier Degradation of Wide and Narrow Channel Nmosfet Devices with Recessed-locos Isolation Structures. 2000.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.