Chia, P. Y. (2000). A study of dielectric occuluded void using partial discharge height and the development of a novel void quantification method.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Chia, Poh Yong. A Study of Dielectric Occuluded Void Using Partial Discharge Height and the Development of a Novel Void Quantification Method. 2000.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Chia, Poh Yong. A Study of Dielectric Occuluded Void Using Partial Discharge Height and the Development of a Novel Void Quantification Method. 2000.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.