A study of dielectric occuluded void using partial discharge height and the development of a novel void quantification method /
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | |
---|---|
التنسيق: | أطروحة كتاب |
اللغة: | English |
منشور في: |
2000.
|
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
وصف مادي: | xi, 120 leaves : ill. ; 30 cm. |
---|---|
بيبلوغرافيا: | Bibliography : p. 99-101. |