A study of dielectric occuluded void using partial discharge height and the development of a novel void quantification method /

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Chia, Poh Yong
التنسيق: أطروحة كتاب
اللغة:English
منشور في: 2000.
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!

مواد مشابهة