Yeo, S. B. (2002). Characterization of mos transistor mismatch for sub-micron process in analog application.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Yeo, Siok Been. Characterization of Mos Transistor Mismatch for Sub-micron Process in Analog Application. 2002.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Yeo, Siok Been. Characterization of Mos Transistor Mismatch for Sub-micron Process in Analog Application. 2002.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.