Characterization of mos transistor mismatch for sub-micron process in analog application /
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Yeo, Siok Been |
---|---|
التنسيق: | أطروحة كتاب |
اللغة: | English |
منشور في: |
2002.
|
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Flicker noise characterization of trapping effects in submicrometer Mos transistors /
بواسطة: Yeo, Boon Pian
منشور في: (1998) -
Nickel silicide integration issues in SI deep sub-micron technologies /
بواسطة: Tan, Wee Leng
منشور في: (2001) -
Characterization of hot-carrier degradation in submicrometer MOS transistors /
بواسطة: Ang, Diing Shenp
منشور في: (1997) -
Hot-carrier characterization of submicrometer MOS transistors : subthreshold degradation and channel-width effect /
بواسطة: Qin, Wei Han
منشور في: (1998) -
Design and construction of charge pumping technique for MOS transistor characterization /
بواسطة: Lee, Hock Guan
منشور في: (2004)