Liu, R. (2001). Magnetic-sector SIMS depth profiling of Si/SiGe heterostructures.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Liu, Rong. Magnetic-sector SIMS Depth Profiling of Si/SiGe Heterostructures. 2001.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Liu, Rong. Magnetic-sector SIMS Depth Profiling of Si/SiGe Heterostructures. 2001.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.