Tay, M. G. L. (2000). Characterisation of Ta2O5 thin films for sub-0.25 um applications: Characterisation of Ta2O5 thin films for sub-0.25 um applications.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Tay, Mark Gek Leng. Characterisation of Ta2O5 Thin Films for Sub-0.25 Um Applications: Characterisation of Ta2O5 Thin Films for Sub-0.25 Um Applications. 2000.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Tay, Mark Gek Leng. Characterisation of Ta2O5 Thin Films for Sub-0.25 Um Applications: Characterisation of Ta2O5 Thin Films for Sub-0.25 Um Applications. 2000.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.