Transmission electron microscopy of microstructures produced in processing of silikon semiconductor devices /
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Jia, Yumin |
---|---|
التنسيق: | أطروحة كتاب |
اللغة: | English |
منشور في: |
2001.
|
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Analysis of foreign matter materials related to the die attach process of semiconductor device packaging /
بواسطة: Tengku Elisa Bustaman
منشور في: (1999) -
The effects of annealing on microstructural changes for aluminium nitride epitaxial grown on sapphire by transmission electron microscopy
بواسطة: Kaur, Jesbains
منشور في: (2017) -
A spectroscopic photoemission microscopy system for semiconductor device analysis /
بواسطة: Koh, Lian-Ser
منشور في: (1994) -
The study of microstructural changes of A1q3 based organic light emitting devices by Monte Carlo simulation of two-demensional triangles /
بواسطة: Cheng, Siew Yen
منشور في: (2000) -
Morphologies and structures of hydrogen-terminated SI (111) surfaces studied by scanning tunneling microscopy and attenuated total reflection FTIR spectroscopy /
بواسطة: Li, Jing
منشور في: (2001)