Chu, L. W. (2001). A resistance-noise model for the investigation of interconnect voiding and reliability.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Chu, Lip Wei. A Resistance-noise Model for the Investigation of Interconnect Voiding and Reliability. 2001.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Chu, Lip Wei. A Resistance-noise Model for the Investigation of Interconnect Voiding and Reliability. 2001.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.