Chen, K. K. (2002). Study of gate oxide degradation using photon emission spectroscopy.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Chen, Kok Kiong. Study of Gate Oxide Degradation Using Photon Emission Spectroscopy. 2002.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Chen, Kok Kiong. Study of Gate Oxide Degradation Using Photon Emission Spectroscopy. 2002.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.