Lin, W. (2002). Fabrication and reliability study of ultrathin nitride/oxide gate stack and oxynitride.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Lin, Wenhe. Fabrication and Reliability Study of Ultrathin Nitride/oxide Gate Stack and Oxynitride. 2002.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Lin, Wenhe. Fabrication and Reliability Study of Ultrathin Nitride/oxide Gate Stack and Oxynitride. 2002.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.