Rajan Subramaniam. (2003). Characterization of polished silicon wafer.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Rajan Subramaniam. Characterization of Polished Silicon Wafer. 2003.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Rajan Subramaniam. Characterization of Polished Silicon Wafer. 2003.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.