Jie, B. B. (1999). Static current and voltage techniques for CMOS reliability characterization.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Jie, Bin Bin. Static Current and Voltage Techniques for CMOS Reliability Characterization. 1999.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Jie, Bin Bin. Static Current and Voltage Techniques for CMOS Reliability Characterization. 1999.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.