مواد مشابهة
-
A robust automatic focusing and astigmatism correction method for the scanning electron microscope /
بواسطة: Ong, Kok Hua
منشور في: (1998) -
An investigation into the electron beam induced current effects on semiconductor materials and devices /
بواسطة: Ong, Vincent Keng Sian
منشور في: (1995) -
Kajian kepelbagaian dan sistem saraf pusat spesies terpilih ikan air tawar di Malaysia /
بواسطة: Mahassan Mamat
منشور في: (2017) -
A multi-pixel CMOS photon detector for the scanning electron microscope /
بواسطة: Joon, Huang Chuah
منشور في: (2012) -
SEM automation using autocorrelation techniques /
بواسطة: Krishnan, Meena
منشور في: (1996)