Lai, W. H. (2001). Characterization of rapid thermal oxide films.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Lai, Weng Hong. Characterization of Rapid Thermal Oxide Films. 2001.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Lai, Weng Hong. Characterization of Rapid Thermal Oxide Films. 2001.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.