Fabrication and characterization of submicrometer structures and devices using soft lithography and scanning probe microscopy /
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Ng, Hou Tee |
---|---|
التنسيق: | أطروحة كتاب |
اللغة: | English |
منشور في: |
2001.
|
الموضوعات: | |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Materials characterization and modification with scanning probe techniques /
بواسطة: Lei, Zhou
منشور في: (1998) -
A study of some aspects of electron beam lithography /
بواسطة: Chor, Eng Fong
منشور في: (1982) -
Effect of X-ray lithography on MOS device reliability /
بواسطة: Kim, Sun Jung
منشور في: (2001) -
Charging effects in low-voltage scanning electron microscope metrology /
بواسطة: Li, Ou
منشور في: (1997) -
A robust automatic focusing and astigmatism correction method for the scanning electron microscope /
بواسطة: Ong, Kok Hua
منشور في: (1998)