Lun, Z. (2002). Electrical characterization of bulk traps and interface traps in the fully-depleted SOI MOSFET.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Lun, Zhao. Electrical Characterization of Bulk Traps and Interface Traps in the Fully-depleted SOI MOSFET. 2002.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Lun, Zhao. Electrical Characterization of Bulk Traps and Interface Traps in the Fully-depleted SOI MOSFET. 2002.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.