Design and construction of charge pumping technique for MOS transistor characterization /
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Lee, Hock Guan |
---|---|
التنسيق: | أطروحة كتاب |
اللغة: | English |
منشور في: |
2004.
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | http://studentsrepo.um.edu.my/id/eprint/2853 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Optimization and characterization of 130 Nm CMOS transistor design using TCAD simulation /
بواسطة: Hani Noorashiqin Abd Majid
منشور في: (2007) -
Characterization of hot-carrier degradation in submicrometer MOS transistors /
بواسطة: Ang, Diing Shenp
منشور في: (1997) -
New techniques for the characterization of hot-carrier degradation in MOS devices /
بواسطة: Leang, Sern Ee
منشور في: (1997) -
Hot-carrier characterization of submicrometer MOS transistors : subthreshold degradation and channel-width effect /
بواسطة: Qin, Wei Han
منشور في: (1998) -
Hot-carrier degradation study in MOSFET's by charge pumping, gated-diode and floating gate techniques /
بواسطة: Goh, Yong Han
منشور في: (1997)