Dependence of physical and electronic properties on the thickness of silicon dioxide thin films /
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| التنسيق: | أطروحة كتاب |
| اللغة: | English |
| منشور في: |
2005.
|
| الموضوعات: | |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
| وصف المادة: | Supervised by Prof. Dr. Muhamad Rasat Muhamad. |
|---|---|
| وصف مادي: | xvii, 204 leaves : ill. ; 30 cm. |
| بيبلوغرافيا: | Bibliography: leaves 191. |