Impact of fabrication process on hot carrier injection in VDMOS transistor /
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Murti, Wijaya Bayu |
---|---|
التنسيق: | أطروحة كتاب |
اللغة: | English |
منشور في: |
2013.
|
الموضوعات: | |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
A study of hot carrier degradation in LDMOS transistor /
بواسطة: Atikah Razi
منشور في: (2013) -
Characterization of hot-carrier degradation in submicrometer MOS transistors /
بواسطة: Ang, Diing Shenp
منشور في: (1997) -
Hot-carrier characterization of submicrometer MOS transistors : subthreshold degradation and channel-width effect /
بواسطة: Qin, Wei Han
منشور في: (1998) -
A study on hot carrier effect (HCE) on LDD n-MOSFET /
بواسطة: Haziezol Helmi Mohd Yusof
منشور في: (2013) -
Hot-carrier effects in thin gate oxide MOSFET's /
بواسطة: See, Leng Kian
منشور في: (1998)