Advanced Process Control (APC) in back-end semiconductor manufacturing environment /
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Lim, Tian Siak |
---|---|
التنسيق: | أطروحة كتاب |
اللغة: | English |
منشور في: |
2013.
|
الموضوعات: | |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Smart manufacturing : its challenge and future implementation in Malaysia /
بواسطة: Muhammad Hazrie Ibrahim
منشور في: (2017) -
A Study of statistical control for automated manufacturing processes /
بواسطة: Cai, Danqing
منشور في: (2002) -
Short-run statistical process control for real-time manufacturing-design, implementation and performance study /
بواسطة: Du, Jian
منشور في: (1998) -
A neuro-fuzzy expert system to support product manufacturability evaluation /
بواسطة: Liu, Yadong
منشور في: (1996) -
A study of yield quantity discrepancy reduction in semi-conductor back-end process /
بواسطة: Allina Abdullah
منشور في: (2011)