Probing technique for energy distribution of positive charges in gate dielectrics and its application to lifetime prediction /

Probing technique for energy distribution of positive charges in gate dielectrics and its application to lifetime prediction /

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Sharifah Fatmadiana Wan Muhamad Hatta (مؤلف)
التنسيق: أطروحة كتاب
اللغة:English
الموضوعات:
Dielectrics > Technique.
Dielectric devices > Technique.
Electric power distribution.
Integrated circuits > Ultra large scale integration.
الوصول للمادة أونلاين:http://studentsrepo.um.edu.my/id/eprint/8287
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!

مواد مشابهة

مواد مشابهة