Lateral Diffused Metal Oxide Semiconductor (LDMOS) transistor Safe Operating Area (HCI-SOA) characterization under hot carrier injection /

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author: Sharifah Shafini Syed Shahabuddin (Author)
Format: Thesis Book
Language:English
Published: 2013
Subjects:
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
LEADER 01538cam a2200349 i 4500
001 u999137
003 SIRSI
005 201407110955
008 140711s2013 my a t 000 0 eng m
040 |a UMM  |d UMJ  |e rda 
090 |a TK7  |b UM 2013 Shasss 
097 |a TK7  |b UM 2013 Shasss 
100 0 |a Sharifah Shafini Syed Shahabuddin,  |e author. 
245 1 0 |a Lateral Diffused Metal Oxide Semiconductor (LDMOS) transistor Safe Operating Area (HCI-SOA) characterization under hot carrier injection /  |c Sharifah Shafini Syed Shahabuddin. 
264 1 |c 2013 
264 4 |c  2013 
300 |a xx, 115 leaves :  |b illustrations ;  |c 30 cm. 
336 |a text  |2 rdacontent 
337 |a unmediated  |2 rdamedia 
338 |a volume  |2 rdacarrier 
502 |b M.Eng.Sc.  |c Jabatan Kejuruteraan Elektrik, Fakulti Kejuruteraan, Universiti Malaya  |d 2013. 
504 |a Bibliography: leaves 102-107 
650 0 |a Metal oxide semiconductors  |x Design and construction. 
650 0 |a Integrated circuits  |x Design and construction. 
650 0 |a Metal oxide semiconductor field-effect transistors. 
650 0 |a Hot carriers. 
710 2 |a Universiti Malaya.  |b Jabatan Kejuruteraan Elektrik,  |e degree granting institution. 
900 |a HA-ZA 
596 |a 1 7 
999 |a TK7 UM 2013 SHASSS  |w LC  |c 1  |i A515925880  |d 25/8/2015  |f 25/8/2015  |g 1  |l STACKS  |m P01UTAMA  |r Y  |s Y  |t TESIS  |u 24/8/2015 
999 |a TK7 UM 2013 SHASSS  |w LC  |c 1  |i A515967394  |l STACKS  |m P07JURUTER  |r N  |s Y  |t TESIS  |u 20/8/2014 
999 |a TK7 UM 2013 SHASSS  |w LC  |c 2  |i A515966589  |l COUNTER  |m P07JURUTER  |r N  |s Y  |t CD  |u 26/8/2014