Kesan sepuhlindap ke atas ciri elektrik sentuhan Ohmik dan Schottky untuk peranti transistor elektron berkelincahan tinggi (HEMTs) /
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Asban Dolah (مؤلف) |
---|---|
التنسيق: | أطروحة كتاب |
اللغة: | Malay |
الموضوعات: | |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Study of LT-GaAs and LT-A1(0.3)Ga(0.7A)As MISFET devices /
بواسطة: Rao, Rapeta V.V.V. Jagannadha
منشور في: (2000) -
Copper-induced deep level defects in GaAs0.6P0.4 alloy semiconductor /
بواسطة: Hu, Peh Yin
منشور في: (1992) -
Pulse-duration dependent capacitance analysis and its application to copper in GaAs0.6P0.4 /
بواسطة: Han, Meng Kwong
منشور في: (1994) -
Large signal modeling of GaAs FETs for the simulation of nonlinear microwave circuits /
بواسطة: Cao, Jiang
منشور في: (1998) -
A study of GaAs/InGaAs/AIAs stepped quantum wells by C-V profiling /
بواسطة: Mohd. Edee Rozey Abd. Manaf
منشور في: (2001)